儀器原理
X射線管發(fā)出的一次X射線，經(jīng)過準直器照射到樣品表面，樣品激發(fā)并輻射出所含元素的特征X射線，根據(jù)特征X射線的能量及強度對樣品所含元素進行定性、定量分析。
元素分析范圍及含量范圍
理論上，DF-2000若配置SDD探測器，可檢測Mg（12）-U（92）之間的所有元素，若配置Si-Pin探測器，可檢測Ti（22）-U（92）之間的所有元素。
元素含量范圍寬，從ppm含量到99.9均可檢測，具體檢出限需看分析材質(zhì)。
主要部件配置及參數(shù)
| 光源部分 | |||||
| X光管品牌 | Amptek | X光管輸入 | 9-11VDC，0.5A | ||
| X光管靶材 |
| X光管輸出 | 50KV，200μA | ||
| X光管功率 | 4W | 準直器材質(zhì) |
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| X光管穩(wěn)定性 | 0.2% 8h | 濾片及材質(zhì) |
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| 探測器 | |||||
| 探測器類型 | SDD | Si-Pin | |||
| 探測器品牌 | Amptek | Amptek | |||
| 典型分辨率 | 123ev | 145ev | |||
| 輸出計數(shù)率 | 100Kcps | 30Kcps | |||
| 峰背比 | ＞8200 | ＞6200 | |||
其它參數(shù)
| 顯示系統(tǒng) | 帶觸摸屏的3.5寸高清顯示器，支持譜圖顯示及結(jié)果顯示模式，A8主控板，高性能，低功耗 |
| 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) | 16位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器，Atom Z510 1.1GHz處理器，1G內(nèi)存，8G工業(yè)級（PQI） CF卡 |
| 操作軟件 | Linux操作系統(tǒng)，具毒免疫功能 |
| 安全防護 | 光管具有自動開啟及關(guān)閉功能，保護操作者安全 |
| 供電模式 | 支持直充供電與電池組供電，電池組采用聚合物鋰離子電池，可連續(xù)使用6小時 |
| 選配功能 | 300萬像素高清攝像頭，方便隨時記錄樣品 |
| 規(guī)格 | 長*寬*高260mm*95mm*280mm |
| 重量 | 約1.8kg |
| 工作環(huán)境 | 溫度范圍-10℃～40℃； |
| 相對濕度 | ≤80% |
DF-2000元素檢出限及誤差參考表
DF-200參考表 Fe基程序 元素 含量范圍 （%） 測定誤差 元素 含量范圍 （%） 測定誤差 Ti 0～0.5 0.25 Cu 0～5 0～0.7: 0.3 0.7～5: 0.4 V 0～5 0～1: 0.16 1～5: 0.3 Nb 0～1 0.1 Cr 0～18 0～2: 0.2 2～18: 0.4 Mo 0～7 0～2: 0.1 2～7: 0.25 Mn 0～9 0～2: 0.26 2～9: 0.5 W 0～19 0～2: 0.3 2～19: 0.9 Ni 0～13 0～2: 0.1 2～13: 0.5 Fe 余量 Ni基程序 Ti 0～1 0.3 Cu 0～33 0～2: 0. 5 2～33: 0.95 Co 0～13 0～3: 0.45 3～13: 0.8 Nb 0～3 0～1: 0.2 1～3: 0.4 Cr 0～25 0～2: 0.3 2～25: 0.8 Mo 0～28 0～2: 0.4 2～28: 0.9 Mn 0～3 0～1: 0.35 1～3: 0.45 W 0～3 0～1: 0.4 1～3: 0.5 Fe 0～39 0～5: 0.4 5～39: 0.9 Ni 余量 Cu基程序 Fe 0～0.5 0.15 Pb 0～6 0～2: 0.3 2～6: 0.5 Ni 0～0.5 0. 15 Sn 0～6 0～2: 0.3 2～6: 0.5 Zn 0～42 0～10: 0.4 10～42: 0.7 Cu 余量
標準配置
（1）DF-2000手持式熒光光譜儀一臺，配手提儀器箱
（2）Li離子電池組一個
（3）U盤一個
（4）USB轉(zhuǎn)接線一根
（5）直充充電器一個
（6）操作說明書一本
（7）標準樣塊一塊
