可程式高低溫試驗箱概述：

　　可程式高低溫試驗箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存；可程式高低溫試驗箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗。

　　可程式高低溫試驗箱詳細(xì)資料：

　　特點：

　　可程式高低溫試驗箱采用進(jìn)口按鍵式溫度控制器,專家PID算法,LCD顯示設(shè)定和測量溫度，溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡單,程式編輯容易；

　　可程式高低溫箱的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品溫度均勻度;

　　全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高;

　　完善的安全保護(hù)裝置,確保產(chǎn)品的運(yùn)行更加安全可靠;

　　可程式高低溫試驗箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。

　　執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

　　1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件

　　2. GB/T11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件

　　3. GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件

　　4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規(guī)程: 低溫試驗方法

　　5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規(guī)程: 高溫試驗方法

　　6. GB/T2423.22-1987試驗Nb溫度變化試驗方法

　　7. GJB150.3-1986高溫試驗

　　8. GJB150.4-1986低溫試驗

　　9. IEC68-2-14 試驗N

　　用途

　　可程式高低溫試驗箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存；

　　可程式高低溫試驗箱TLP225的主要技術(shù)參數(shù)請。