ST2000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
使用K-MAC公司的光譜系統(tǒng),可以很快、很容易地測(cè)量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系數(shù)。簡(jiǎn)單地將K-MAC系統(tǒng)插入您電腦的USB口,并開(kāi)始進(jìn)行測(cè)量。整個(gè)系統(tǒng)只需要幾分鐘來(lái)搭建,而測(cè)量過(guò)程也僅需要基礎(chǔ)的電腦知識(shí)。
產(chǎn)品特征:
1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞?,所以是非接觸式,非破壞式,不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測(cè)量迅速正確,且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測(cè)量 3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品。
7)可測(cè)量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學(xué),研究室等
尺寸 | 190 x 265 x 316 mm | 重量 | 12Kg | 類(lèi)型 | 手動(dòng)的 | 測(cè)量樣本大小 | ≤ 4" | 測(cè)量方法 | 非接觸式 | 測(cè)量原理 | 反射計(jì) | 特征 | 測(cè)量迅速,操作簡(jiǎn)單 非接觸式,非破壞方式 優(yōu)良的重復(fù)性和再現(xiàn)性 用戶易操作界面 每個(gè)影像打印和數(shù)據(jù)保存功能 可測(cè)量多達(dá)3層 可背面反射 | 活動(dòng)范圍 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移動(dòng)距離) | 測(cè)量范圍 | 200?~ 35?(根據(jù)膜的類(lèi)型) | 光斑尺寸 | 20? 典型值 | 測(cè)量速度 | 1~2 sec./site | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 聚合體: PVA, PET, PP, PR ... 電解質(zhì): 半導(dǎo)體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... | 選擇 | 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) | 探頭類(lèi)型 | 三目探頭 | nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt | 照明類(lèi)型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer | |
GM1350 ACS55001 GM1150A ACS550011 GM1150 ACS550011 ACS550011 ACS550011 ACS550010 ACS550010 ACS550010 ACS550010 GM900 ACS GM700 RK5000 GM550 GM300 GM100DU GM100D ACS5500106 GM60D ACS5500105 ACS5500104 GM40D ACS5500103 RK2511 ACS5100124 ACS510011 ACS5100 AT520s ACS51001 ACS51001 ACS5100108 AT770 AL05P ACS510010 AL05N ACS510010 AL05D AT1653 AL05R ACS5100103 RK2681 ACS510010 ACS510010 RK2681A ACS510010 RK2675A 0.5KW ACS5100101 ACS5100109 ACS510010