本設(shè)備適用于于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。

詳細(xì)介紹

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱
High Altitude High Low Temperature Chamber
BTHQ系列——標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

一、產(chǎn)品特點(diǎn)
全新上乘精密的外型工藝設(shè)計(jì)、外箱采用冷軋板雙面靜電樹(shù)脂高溫噴塑，內(nèi)箱全部采用國(guó)際SUS# 304耐高溫不銹鋼密封焊接。保溫層采用耐火級(jí)高強(qiáng)度PU聚氨酯發(fā)泡保溫絕緣材料。制冷系統(tǒng)引進(jìn)日本、德國(guó)的節(jié)能制冷控制技術(shù)，比傳統(tǒng)設(shè)備節(jié)能20%以上。控制系統(tǒng)與控制電路均采用進(jìn)口品牌零部件。

二、參考標(biāo)準(zhǔn)
1.制造標(biāo)準(zhǔn)
GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-2008：高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11159-2008：低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB/T5170.2-2008溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10-1996高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
3、滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB10590-89低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB15091-89高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/11159-89低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.25-1992低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)箱；
GB/T2423.26-1992高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)箱；
GJB150.2-86低溫/低氣壓（高度）試驗(yàn)；
GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
GJB360A 方法105：低氣壓試驗(yàn)
GJB150.2-86低氣壓（高度）試驗(yàn)
三、產(chǎn)品用途
本設(shè)備適用于于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。
四、產(chǎn)品規(guī)格

五、性能參數(shù)

六、氣壓等級(jí)高度參照表

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