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更新時間:2024-03-09 17:25:14瀏覽次數(shù):192次
聯(lián)系我時,請告知來自 紡織服裝機械網場發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM廠家:日本電子株式會社型號:JEM-2100F技術參數(shù):1.加速電壓:200KV;信息分辨率:0.14nm;點分辨率:0.20nm;STEM分辨率:0.2nm;2.樣品傾角:+/-40o;放大倍數(shù):60-1000000;電子槍:Schottly場發(fā)射電子槍
場發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM
廠家:日本電子株式會社
型號:JEM-2100F
技術參數(shù):
1.加速電壓:200KV;信息分辨率:0.14nm; 點分辨率: 0.20nm;STEM分辨率:0.2nm;
2.樣品傾角:+/-40o;放大倍數(shù):60-1000000;電子槍:Schottly 場發(fā)射電子槍。
3.高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析;
4.配備英國Oxford X-MAX能譜儀 。
應用范圍:
1.應用于材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體、納米技術等領域的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析;
2.各種材料微區(qū)化學成分的定性和半定量檢測;
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測定;
4.復合材料界面特性的研究。
表征項目:
可進行TEM形貌 ,HRTEM高分辨 ,選區(qū)電子衍射SAED, STEM-HADDF暗場像 , EDX元素定量, Mapping元素分布 , 點掃描、 線掃描 。
樣品要求:
粉末、液體樣都行;樣品量:粉末樣≥1mg ,液體樣≥1ml 。
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