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產(chǎn)品型號(hào)JEM-ARM200F(C)-NEO ARM
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)日本電子株式會(huì)社2010年7月推出了冷場(chǎng)發(fā)射雙球差校正原子分辨和分析型透射電鏡
日本電子株式會(huì)社2010年7月推出了冷場(chǎng)發(fā)射雙球差校正原子分辨和分析型透射電鏡。
傳統(tǒng)的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)穩(wěn)定性差,亮度低,無法保證透射電鏡的使用需求。日本電子株式會(huì)社開發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)解決了這些問題,并把該技術(shù)加入到球差校正透射電鏡ARM200F序列里。使ARM200F在保證亞納米分辨率0.078nm的同時(shí),能量分辨率提高到0.3eV,極大增強(qiáng)了原子級(jí)觀察和原子級(jí)分析能力。
在美國(guó)的臺(tái)搭載冷場(chǎng)發(fā)射電子槍的JEM-ARM200F將安裝在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美國(guó)的Brookheaven國(guó)家實(shí)驗(yàn)室;歐洲各國(guó);日本的東京大學(xué)、東北大學(xué)、名古屋大學(xué)、九州大學(xué)等;中國(guó)臺(tái)灣的清華大學(xué)也開始紛紛采購(gòu)這一設(shè)備。
從2009年開始,中國(guó)先后購(gòu)買了JEM-ARM200F進(jìn)二十臺(tái),針對(duì)不同研究領(lǐng)域選用了不同配置。2017年6月日本電子株式會(huì)社推出了款的NEO ARM,采用自動(dòng)球差校正軟件、且低壓下的分辨能力,適用范圍進(jìn)一步擴(kuò)大,為材料科學(xué)研究提供了一個(gè)更全面分分析平臺(tái)。
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