產(chǎn)品介紹:
經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測厚儀YT8200是3nh公司制造的擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的國產(chǎn)涂層測厚儀，能依據(jù)磁性法快速、準(zhǔn)確的無損檢測各種涂覆在鐵磁性金屬基底上的各種非磁性涂層厚度。
鐵基分體探頭測厚儀YT8200測量準(zhǔn)確、測試量程大、多種校正模式、多種測量模式、定位方便、功能強(qiáng)大，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測領(lǐng)域，是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。
Fe基探頭可檢測噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。
經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測厚儀YT8200特點(diǎn)
1、支持零點(diǎn)、單點(diǎn)、五點(diǎn)校正
支持多種校正方式，測試更便捷，可滿足更高測試精度需求
五點(diǎn)校正
2、IPS純彩屏，操作流暢，存儲容量大
IPS純彩屏
3、測量模式豐富
涂層測厚儀YT8200有基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式可供選擇，適應(yīng)更多測試場景
測量模式豐富
4、精確測量曲面平面
凸面半徑5mm；凹面半徑10mm
精確測量曲面平面
5、高靈敏探頭
自主研發(fā)高靈敏探頭反應(yīng)速度快，測試更加準(zhǔn)確
高靈敏探頭
6、支持藍(lán)牙，手機(jī)APP、微信小程序更多擴(kuò)展功能
可即時通過藍(lán)牙把測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)绞謾C(jī)，進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)編輯和處理，輸出測試報(bào)告。
支持藍(lán)牙
鐵基分體探頭測厚儀YT8200技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號 | YT8200 |
產(chǎn)品名稱 | 經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測厚儀 |
特性 |
|
符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM B499,ASTM D1400，ASTM D709; |
基體模式 | 鐵基 |
探頭形式 | 分體式 |
定位結(jié)構(gòu) | / |
分辨率 | 1μm |
測量范圍 | 0~2000μm |
測量精度 | 零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm； |
顯示屏 | IPS全彩屏, 1.14inch |
接口 | Type C USB;藍(lán)牙5.0；按鍵 |
存儲數(shù)據(jù) | 1000條 |
電池電量 | 鋰電池，充滿電單次可連續(xù)測試10000 |
測量模式 | 基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式 |
ZUI小測量尺寸 | 10×10mm |
ZUI小測量厚度 | 磁性：0.2mm |
ZUI小曲率 | 凸面半徑5mm；凹面半徑10mm |
顯示單位 | μm/mil |
尺寸 | 102×50×20mm(探頭?18x69) |
重量 | 80g |
工作溫度 | 0~40oC(10~90%RH無凝露) |
儲存溫度 | -10~50oC |
軟件支持 | 微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS |
標(biāo)準(zhǔn)附件 | 基體1塊(鐵基體),腕帶，擦拭布,USB數(shù)據(jù)線，定位片，校準(zhǔn)片 |
可選附件 | 打印機(jī)，5V-2A電源適配器 |
注： | 校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異)，技術(shù)參數(shù)僅為參考，以實(shí)際銷售產(chǎn)品為準(zhǔn) |
涂層測厚儀測量影響因素：
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
