掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導(dǎo)顯微鏡,掃描電化學(xué)顯微鏡等)的統(tǒng)稱,是國際上近年發(fā)展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號檢測技術(shù)、機械設(shè)計和加工、自動控制技術(shù)、數(shù)字信號處理技術(shù)、應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術(shù)等現(xiàn)代科技成果的光、機、電一體化的高科技產(chǎn)品。
SPM-Nanoa
·觀察更簡易…自動觀察
簡易模式"Automatic observation "
ANALYTICALINTELLIGENCE
自動光軸調(diào)整“Link On"
自動參數(shù)調(diào)整"NanoAssist"·觀察更細致…功能高信噪比檢測系統(tǒng)
高達8kK點陣成像光學(xué)顯微系統(tǒng)
·觀察更快速…省時自動觀察
探針更換夾具和高速掃描器Nano 3D Mapping Fast