電鍍膜厚儀_金東霖對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
傳統(tǒng)的楔切法，光截法，電解法，都是有損檢測。而X射線它采用非接觸式穿透測量法，既不會傷害材料，更不會受板型、現(xiàn)場條件、潔凈度等因素的影響。并且測量穩(wěn)定、準確還可以對大部分磁性或非磁性材料進行測量。 

電鍍膜厚儀_金東霖軟體說明：
*  電腦操作系統(tǒng) XP系統(tǒng)
*  測量膜厚元素范圍：元素周期表13—92號元素間的所有鍍層，
   使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測量層層次，zui多可以測量四層（加基材zui多五層）
*  儀器支持二種鍍層厚度計算方法
  （1）、無標準片的FP法（Fundamental Parameter）全新數(shù)學計算方法。
     FP法名詞解釋：即在沒有標準塊的前提下，一樣能精確測量，此方式是通過儀器直接讀取鍍層元能量信息，通過各無素能量信號的強弱或設定的各無素比例參數(shù)，以一種數(shù)學的方式直接計算鍍的厚度。因為它不需要標準塊，因此它不受標準塊的限制，在沒有各種合金鍍層標準塊的情況下樣精確的測量各種二元、三元合金鍍層）到目前為止，bowman是世界上*可實現(xiàn)此種新型測試技術的膜厚測量品牌，此技術已使用了17年。
  （2）、支持傳統(tǒng)的帶標準塊的檢量線法，即通過鍍層標準塊建立測試程式檔案測量相對應的鍍層厚度。