覆層測厚儀參數(shù)：測頭類型：F。測量原理：磁感應(yīng)。測量范圍：0-1250um。低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。探頭連接方式：一體化。示值誤差：一點校準（um）±[3%H 1]。兩點校準（um）： ±[（1～3）%H 1]。測量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9?；wzui小面積的直徑（mm）：ф7。zui小臨界厚度（mm）：0.5。

為了保證覆層測厚儀的高可靠性和*性，系統(tǒng)的選材均選用國內(nèi)或優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品。覆層測厚儀在同等競爭條件下，我公司在不以降低產(chǎn)品技術(shù)性能、更改產(chǎn)品部件為代價的基礎(chǔ)上，真誠以*惠的價格提供給貴方。上海魅宇儀器設(shè)備有限公司熱誠歡迎各界朋友前來參觀、考察、洽談業(yè)務(wù)。上海魅宇，了解產(chǎn)品。混凝土鉆孔取芯機 http://www.chem17.com/st255513/sale_7668372.html

 

功能特點：
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

 

參數(shù)：
◆測頭類型：F。
◆測量原理：磁感應(yīng)。
◆測量范圍：0-1250um。
◆低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
◆探頭連接方式：一體化。
◆示值誤差：一點校準（um）±[3%H 1]。
◆兩點校準（um）： ±[（1～3）%H 1]。
◆測量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
◆基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。
◆zui小臨界厚度（mm）：0.5。
◆溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
◆統(tǒng)計功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、
標準偏差（S．DEV）。
◆工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
◆測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
◆存儲能力：15 個測量值。
◆打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦。
◆關(guān)機方式：自動。
◆電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
◆外形尺寸：150×55.5×23mm。
◆重量：150g。
◆基本配置：主機。
◆標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
◆鐵基體。
◆充電器。
◆可選附件。
◆TA230打印機。

 

基本原理：
本儀器采用了磁性測厚法，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。  基本工作原理是：當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆層的厚度。

 

基本配置：
◆TT220主機 一臺
◆標準樣片 1盒
◆標準基體 1塊
◆充電器 1個

 

主要功能：
◆可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正：
◆具有兩種測量方式地：連續(xù)測量方式（continue）和單次測量方式（single）;
◆具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
◆具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量；
◆設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值地（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO.）、標準偏差（S.DEV）；
◆具有打印功能，或打印測量值、統(tǒng)計值；
◆具有欠壓指示功能；
◆操作過程有蜂鳴聲提示；
◆具有錯誤提示功能；
◆具有自動關(guān)機功能。

 

優(yōu)點：
◆測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
◆精度高 ：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上*能達到*的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高；
◆穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品；
◆功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

 

簡介：
該儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。

 

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