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iEDX-150T鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試

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更新時間：2025-03-16 09:22:47瀏覽次數(shù)：23次

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X射線鍍層測厚儀

RoHS有害物質(zhì)分析儀

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廣州鴻熙電子科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試iEDX-150T是專業(yè)用于金銀首飾及精密五金電鍍領(lǐng)域的X射線熒光光譜分析儀，是韓國進口品牌ISP專業(yè)生產(chǎn)的，質(zhì)量精良，穩(wěn)定性好，測試準(zhǔn)確度可做到5%以內(nèi)。

詳細介紹

一、產(chǎn)品概述

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試

產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

產(chǎn)品名稱：鍍層厚度測試儀

型號：iEDX-150T

生產(chǎn) 商：韓國ISP公司

產(chǎn)品圖片：

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試iEDX-150T

工作條件
●工作溫度：15-30℃	●電源：AC: 110/220VAC 50-60Hz
●相對濕度：<70%，無結(jié)露	●功率：150W + 550W

二、產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢

鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
儀器尺寸：618*525*490mm，樣品臺移動距離：160*150*90mm。
激光定位和自動多點測量功能。
可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
可進行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。
操作簡單、易學(xué)易懂、**無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果。
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測，一次性購買標(biāo)樣可**使用。
使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi)，提供***保姆式服務(wù)。
可以遠程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
可進行RoHS檢測（選配功能），測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

（二）產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。

Multi Ray. 運用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法，對樣品進行**的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄鍍層厚度測量

相對（比）模式無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)**定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、標(biāo)準(zhǔn)差、低/高讀數(shù)，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
自動移動平臺，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

u 測量原理：能量色散X射線分析	u 樣品類型：固體/粉末
u X射線光管：50KV，1mA	u過濾器：5過濾器自動轉(zhuǎn)換
u檢測系統(tǒng)：SDD探測器（或Si-Pin）	u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
u檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92)	u準(zhǔn)直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)
u應(yīng)用程序語言：韓／英／中	u分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光
u儀器尺寸：618525490mm	u樣品臺移動距離（自動臺）：16015090mm
u樣品臺尺寸：250*225mm