蔡司掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡SIGMA300 SEM掃描電鏡掃描電鏡

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更新時間：2025-05-21 11:46:04瀏覽次數(shù)：13次

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南京天之泰光電科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

精工品質(zhì)時代匠心為客戶提供有價值的技術(shù)解決方案蔡司掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡SIGMA300SEM掃描電鏡核心技術(shù)蔡司公司推出Sigma300場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學系統(tǒng)設(shè)計，將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了極限，采用適宜的探針電流范圍，降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息

詳細介紹

精工品質(zhì) 時代匠心

為客戶提供有價值的技術(shù)解決方案

蔡司掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡SIGMA300 SEM掃描電鏡核心技術(shù)

蔡司公司推出Sigma300場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學系統(tǒng)設(shè)計，將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了極限，采用適宜的探針電流范圍，降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。Sigma300將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma自動的四步工作流程大大節(jié)省了設(shè)置與分析操作的時間，提高效率。

蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500產(chǎn)品應用

掃描電鏡廣泛用于材料科學（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學、醫(yī)學、半導體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的防治、災害（火災、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。在材料科學、金屬材料、陶瓷材料半導體材料、化學材料等領(lǐng)域，進行材料的微觀形貌、組織、成分分析。各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 300技術(shù)參數(shù)

分辨率	1.0nm @30kV STEM、1.0nm @15 kV、1.8nm @1kV
放大倍數(shù)	10-1,000,000×
加速電壓	調(diào)整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現(xiàn)）
探針電流	3pA~20nA（100nA選配）穩(wěn)定性優(yōu)于0.2%/h
低真空范圍	2-133Pa（Sigma 500VP可用）
樣品室	358mm（Φ），270.5mm（h）
樣品臺	5軸優(yōu)中心全自動、X=130mm、Y=130mm、Z=50mm、T=﹣4°－70°、R=360°
系統(tǒng)控制	基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標、鍵盤、控制面板控制
存儲分辨率	32k×24k pixels