產(chǎn)品展示
CMI233Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測(cè)厚儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測(cè)厚儀,測(cè)試采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。
Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測(cè)厚儀參數(shù)規(guī)格:
型號(hào):CMI233+ECP(探頭)
品牌:英國牛津儀器Oxford
測(cè)量范圍:0-1.52mm(0-60mils)
測(cè)量精度:依照參考標(biāo)準(zhǔn)片±0.1um
單位:um/mils
尺寸:14.9X7.94X3.02cm
重量:260g(含電池)
電源:9V電池
注意:該儀器還可進(jìn)行涂層側(cè)后,可選購探頭SMP-2
Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測(cè)厚儀檢測(cè)原理:
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
產(chǎn)品供貨展示圖:
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